SRM 1761a 低合金鋼標準品旨在用于評估化學和儀器分析方法以及校準儀器分析方法。 SRM 1761a 的每個單元由一個直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

測試面是與標簽面相對的一面，標簽面包括SRM號。整個單位的厚度是認證的。但是，在使用x射線熒光光譜法時，警告用戶不要測量厚度小于2mm的磁盤。每個包裝磁盤都是通過銑床對測試表面進行精加工來制備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。用戶在重新表面處理磁盤或進行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染磁盤表面。NIST發(fā)現(xiàn)，在表面磨削過程中，必須經(jīng)常更換磨紙。用過的紙失去了從鋼表面去除污染物的能力。不使用時，應將SRM 1761a 低合金鋼標準品材料保存在其原始容器中，并放置在陰涼干燥的地方。這種材料使用固態(tài)磁盤和從磁盤制備的芯片進行了測試。認證值被認為代表了材料的整體平均成分。

計劃、準備、測試和分析

SRM 1761a 低合金鋼標準品的材料在賓夕法尼亞州雷丁的CarpenterTechnology Corporation進行真空感應熔化，然后進行真空電弧重熔。錠由卡彭特技術(shù)加工，以提供低不均一性的材料。1989年，srm 1761的原始準備、認證和發(fā)布所涉及的技術(shù)和支持方面由P. A. Lundberg通過NIST標準參考物質(zhì)計劃進行協(xié)調(diào)。導致SRM 1761認證的技術(shù)測量的整體協(xié)調(diào)是在ASTM/NIST研究助理計劃的研究助理（退休）J.I. Shultz的指導下進行的。

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